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※ 引述《couty1234 (我要天天喝光泉)》之銘言：
: 如題,想請問若得到一張如
: 所對應的晶面???
: 小弟查到的資料是說要先對此圖做快速傅立葉轉換(FFT),然後中心點跟某點連線,
: 再跟HRTEM所得到的晶面間距去比對
: 請各位大大幫幫忙,或是有這方面的書可以提供參考,感謝各位了
嗨原po好，板上的各位前輩好，
剛剛打到一半斷線，所以這次我就簡短回一下。
有疏漏或錯誤之處還煩請指正，謝謝各位。
原Po的圖是簡單的單晶之正晶帶軸選區電子繞射圖，
繞射點的產生是因為電子束與不同的晶面產生了繞射，
此處可以簡單想像成簡單的布拉格繞射，雖然實際的繞射條件並沒有那麼嚴格，
會因為試片狀況或電子束條件而有所變化。
每一個繞射點代表的就是一組互相平行的晶面將電子束偏折後的結果。
故繞射點代表的正是晶體之不同晶面之晶面間距與晶面夾角。
若是由繞射scale經過校正的TEM（穿透式電子顯微鏡）拍出的話，
只要將中心繞射點與任意繞射點相連，其距離之倒數就是對應的晶面間距。
若是已知的材料或晶體結構，由晶面間距與晶體常數，即可簡單回推出所屬的hkl晶面指
數。
若是未知的材料或晶體結構，則需要將數個繞射點的晶面間距都先找出來，
由晶面間距之間的比值去決定是何種晶體結構，先確定為何種晶體結構後，才能替繞射點
標上對應晶面。
因為簡單的如FCC、BCC、Diamond structure等結構，因為對稱性的緣故，從不同的正晶
帶軸(zone)拍攝繞射圖時，
不會出現所有的繞射點，因此通常需要拍攝好幾個不同晶帶軸的圖。
至於原po提到的FFT跟HRTEM，基本上都不甚正確。
繞射圖本身就數學上而言，就已經是影像（或晶體）的FFT，因此再做一次FFT只會把繞射
圖變回影像。
而要解讀HRTEM的影像，基本上需要在特定的對焦值，其所得到的晶面間距也會因為像差
以及試片厚度而改變，
因此即使得到了晶面間距，通常來說也不會比繞射圖來得直接。
若是要比對繞射圖算出來的晶面間距正不正確，一般來說會直接從晶格常數回推。
相關的書籍可以參考：
鮑忠興、劉思謙 近代穿透式電子顯微鏡實務
David B. Williams , C. Barry Carter Transmission Electron Microscopy--A
Textbook for Materials Science
謝謝大家。
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