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wat測試項目 在 [心得] 給IC測試工程師的基本入門指南- 精華區Tech_Job 的推薦與評價


作者ghost008 (KerKerSmile)
看板Tech_Job
標題[心得] 給IC測試工程師的基本入門指南
時間Tue Jan 1 20:27:35 2019

開頭破題

這篇是留給想做IC測試(Testing) 或是同我一樣沒有想法誤打誤撞進入這行的新手所看的

一篇初級指南，主要用於分類或給予新人在職場上的定位，以及未來的出路

技術面上就不談太多，小弟資歷尚淺，也就不獻醜了

===========以下正文

首先，先把測試這個職務以人力銀行的職缺做區分，大致有軟體及硬體這兩個部分

軟體測試五花八門，只要不是IC設計驗證的都不是本篇內容，這邊不贅述。

硬體測試才是一般IC測試/驗證的主軸，依照你在的公司類型有4個類型

1.IC Design House(Fabless)

當你在 Design House 底下，一般會有兩個工作範圍

a.替自家的IC在CP/FT段寫寫機台程式，做一些RD實驗，通常派到subcon去借機來寫

b.DFT Team 或 DV Team ，用Verilog 寫 Test Bench 模擬FSM的狀況 或設計DFT

通常最缺的是a，這裡的測試不會是純黑箱，所以多少能從Datasheet內學到一些
測試手法或知識作為未來的經驗

參考資料 : 你家公司的網站，去撈datasheet下來看function diagram很重要

未來轉職 : 同公司的FAE 或 其他公司的測試工程師

2.Foundry / Factory

在半導體段，分成3大類，WAT 及 CP ，有錢的會多拆一個給Device/RA Team做LAB的工作

a.WAT
Wafer Acceptance Test，測IC上的testkey，包含自家的layout
最佳化及客戶實驗的function

b.CP
Circuit Probing ，真正的100%測試，量產的關鍵，主要針對DC + Function的驗證
寫寫ATE測試程式，會接觸到產品工程師，所以多少了解半導體物理特性
測試出來的資料會對應到不同製程段的異變
會有一些針對自家CELL的實驗性質的工程

c.LAB (元件/可靠度驗證)
假設在CP段沒有測試function或是因為設計問題不能在CP上測試的，會移到可靠度進行
如一些RF要量測Scatting Parameter ，或是驗junction temperature
以及針對車用/手機等不同規格使用的可靠度驗證
這裡多使用半自動測試量測儀器

參考資料 : 多了解製程與電性的關聯，會在測試上更有收穫

未來轉職 : 在WAT或CP段轉設備商或IC設計，或轉產品工程，在LAB則還可以多轉做RA工程

3.Assembly House / Testing House

專職測試的委外測試廠，一般分成兩類

a.CP+FT的測試工程師
純粹的黑箱測試，照表抄課
替不想出人力的Design House 建立測試程式，以及 Device Setup，轉個Platform
寫點小程式轉一些Pattern

b.CP+FT的客戶測試服務工程師
把編輯好的程式放入特定資料夾上傳，定期回報良率，即時更新程式版本及資料回傳

參考資料 : 各家測試機的使用手冊，多跨Platform會讓你在ATE使用上更得心應手

未來轉職 : a會是設備商的最愛，或轉成客戶的測試工程師，b就自求多福......

4.Verification Lab / Vendor
這邊基本上沒得談，市面上的那幾間設備商的FAE就是你未來的選擇
幫客戶轉不同Platform 寫個自家程式算是基本，交際也要有一定的程度
客戶穩定就是爽爽做，客戶很硬就要夾起來做

參考資料 : 背好自家機台的設定精度/範圍，以及一顆寵辱不驚的心

未來轉職 : 以上皆可

版上蠻多測試新人之所以很難找到一篇適合的測試資料，或是很難入門
最重要的是不知道自己身處何處，以至於不曉得該如何下手

希望這篇對不小心走了這行的新人會有幫助

有其他問題的也可以在推文直接問，我能回答就回答

也可能會有錯的可以直接指正，我一併修改
--
※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 116.241.149.115
※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Tech_Job/M.1546345658.A.BCD.html
推 qwqmmmm: 謝謝您 01/01 20:30
推 doggly: 推 01/01 20:35
推 tony9211: 這篇很棒 01/01 20:39
推 nobody741: 感謝 01/01 20:43
推 Homedoni: 這篇很棒 但更正一下WAT 是wafer acceptance 01/01 20:48
推 qqdan: 是wafer acceptance test 01/01 20:58
→ qqdan: CP是circuit probing，不是circuit probeing 01/01 20:59
謝謝 縮寫用慣了 細節就漏掉了
推 sclismeok: 推 01/01 20:59
推 ioeve: 感謝分享 01/01 21:04
推 hf023: 感謝分享 01/01 21:06
推 slag: 推 01/01 21:08
推 tony1768ya: 推 01/01 21:08
推 kk123: CP 不是 Chip Probing 嗎？ 01/01 21:10
推 qq1234: 01/01 21:10
→ kk123: FT 是 Final Test 01/01 21:10
FT是Final Test沒錯，簡單來說是指封裝後測試
CP的C用Circuit 或 Chip都沒問題，你用OM看chip，裡面就是Circuit
推 kingbo: 讚，很詳細 01/01 21:17
推 wu128pcman: 真 IC測試指南 推！ 01/01 21:25
推 zhuzii: 認真 推 01/01 21:28
推 Armuu: 感謝分享 01/01 21:32
推 ToTaiwan: 推 01/01 21:36
推 Insect: 蠻準的,我當過testing house的測試產品工程師 01/01 21:37
→ Insect: 待了四年應該算夠資深,現在工作內容和半導體測試完全沒相 01/01 21:38
→ Insect: 也是之後衍伸出的技能樹 01/01 21:39
推 as891339: 推 01/01 21:50
推 xru03: 推分享 01/01 21:51
推 w61036: 這個機械轉的過嗎..Q 01/01 21:58
機械也可以啦 有看過土木也來做的 只是通常都從封測廠開始熬而已
推 hh440977: 推 01/01 22:04
推 abaloneman: 好文章 值得流傳後世 人家來問IC測試是啥 就回這篇! 01/01 22:07
推 princeman: 很棒 01/01 22:08
推 dd410504: 專業推！ 01/01 22:12
推 motherboard: 請問IC的自動化測試是啥東西嗎? 01/01 22:26
Automatic test 泛指 IC在出廠前會進行很多的AC/DC電性測試項目
將它整合到只要壓一個按鍵就能依照TestFlow全部測試完成並產生測試資料的程度
推 goku0718: Te幫推 01/01 22:29
推 st903202xp: 推 01/01 22:35
推 powergreen: 推 01/01 22:37
推 q1e5t9u6o3: 推 01/01 22:45
推 darkangel119: 路過推 01/01 22:56
推 paul6226987: 路過給推 01/01 23:01
推 sk050607: 請問原PO懂IC設計驗證工程師和測試工程師的差別嗎？ 01/01 23:07
我也寫FPGA，所以也有做驗證跟Demokit，但不是專門用SV的Team
以我經驗來說，Test Eng 是讓 Tester 作為Master+Power 把訊號及PATTERN打入DUT內
而Design Verification 是建立 Testbench 作為Master/Slave 驗證I/O屬性
確認Pipeline以及Coverage \ Event 的設計
推 belatrixluci: 推，太感謝了 01/01 23:16
推 belatrixluci: 請問在Design house的測試有機會轉設計端嗎？如何 01/01 23:24
沒有，去碩士班寫一顆基本的PLL並且下線過才有機會
→ belatrixluci: 加強自己以利轉？ 01/01 23:24
推 nevinyrrals: 優文推 01/01 23:31
推 PBS9382: 感謝感謝 我就是自求多福的那個... 01/01 23:32
推 ALDNOAH5566: 還有module 測試 01/01 23:44
做demokit或Module Board嗎，有做過幾個RF用的
推 r30385: 推 01/01 23:45
推 b835040: 推 01/01 23:50
推 QQflower: 謝謝 01/01 23:50
推 h816090: 好文推！wat和CP差在哪呢？什麼是testkey阿？ 01/01 23:59
收集資料不同
WAT會有EPI特性的資料，像是beta值或R_on等等，實務上測5點或25點皆有
CP則是會有open/short，High/Low Level，以及各種功能性測試資料(IC不同項目不同)
testkey則是在Wafer上犧牲一些成品面積，作為驗證客戶研發階段的demoIC
或是驗證一些被動元件的最佳化，像是電感要兩層metal繞三圈或三層metal繞兩圈
諸如此類的特性驗證
推 LieTo: 幫推 01/02 00:11
推 n791116: IC驗證通常要會python,Perl,C,C++,Verilog 01/02 00:19
→ n791116: 測試工程師通常不用會寫程式 01/02 00:20
→ n791116: 測試工程師87%都是年輕正妹 01/02 00:21
推 tomyou1234: 推 01/02 00:23
→ n791116: 例如: 網路線插拔100次後看有沒有問題 01/02 00:37
python or perl 是用來轉換資料的，ATE本身就有，所以用不到
C/C++通常用來built PHY，你應該是在Linux或用Visual Studio來開發的
這種PC Based 的測試是屬於System Level，如測試外接盒的BridgeIC功能
或是用在single Package 的IC，如CIS，VGA，CPU，FPGA上
網路線插拔或是拉力實驗這種工業控制的機台用PLC寫的很多，用人的幾乎找不到了
推 james112214: 幫推 01/02 00:56
推 vm3tl6vup: 謝謝分享 01/02 01:29
推 b2856088: 哈哈 設備工程師有辦法轉職到這行業嗎 01/02 03:09
也可以，這行跟設備的屬性也差不多
推 sorrer111: 推 01/02 03:29
推 iptt33: 好文推一個 01/02 07:32
推 d5168: 好文必推～ 01/02 08:14
推 jghn1119: dft 薪水比te 多喔 01/02 08:45
DFT 也是門學問，很多Functional Pattern , MBIST / SCAN Test Pattern 是給DFT建的
在TE端大部分建simply Function Pattern 而已
推 timtdsas: 推學問 01/02 09:00
推 asabase: 推 01/02 09:08
推 ken81521: 如果是b自求多福還有救嗎? 01/02 09:26
如果你很會Social，英文溝通無礙，可以轉半導體端的客戶工程師，類似PM+Presales
推 belatrixluci: 請問四個種類之間也可以互相轉嗎？ 01/02 09:51
一般來說，都可互轉，但通常轉4比較多(有遮羞費跟車補)，4是少數經歷>>>>>學歷的
3轉1通常要求學歷背景，而且調薪幅度可能不高
2就是吃大鍋飯穩定上下班，蠻多有家庭的進2是很好的選擇
※ 編輯: ghost008 (36.226.158.216), 01/02/2019 10:06:47



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測試項目 包括di/dt, du/dt, Eon, Eoff, Err, Irr, Vth等. 動態電流500A ... 在WAT, RE, Modeling, TD等部門，輔助晶圓探針測試.

#51. [心得] 給IC測試工程師的基本入門指南- 看板Tech_Job

WAT Wafer Acceptance Test，測IC上的testkey，包含自家的layout 最佳化及客戶實驗的function b.CP Circuit Probing ，真正的100%測試，量產的關鍵， ...

#52. [心得] 給IC測試工程師的基本入門指南- Tech_Job板- Disp BBS

開頭破題這篇是留給想做IC測試(Testing) 或是同我一樣沒有想法誤打誤撞 ... 推Homedoni: 這篇很棒但更正一下WAT 是wafer acceptance5F 01/01 20:48.

#53. WAT测量项目以及测试方法 - 360doc个人图书馆

高端招聘：半导体行业销售总监职位. 链接：半导体行业销售总监招聘. 芯片供货 更好的渠道为您供应全球各种等级原厂原装的系统芯片（FPGA etc ...

#54. Process & Design Co-optimization - 崛智科技有限公司

... (例如SIDD與晶片內RO的均值)，我們以傳統量產時幾個離散WAT測試點(13 ... extraction)，將資料視覺化、分析趨勢並產生洞見，如此我們在項目開案 ...

#55. IC講解： 如何區分CP測試和FT測試- IT閱讀 - ITREAD01.COM ...

所以本文將對於那些需要接觸測試但不是測試人員的人進行關於CP和FT的測試的講解。 按照國際慣例，首先需要再解釋一下什麼是CP和FT測試.CP是（Chip Probe） ...

#56. WAT探針卡: 江河三緯科技股份有限公司

內容. 規格. 直流低漏電測試等級: <500 fA; 探針型式: MEMS 探針及懸臂針; 接觸壓力: 可依客戶規格設定; 維修: 可更換針座易於進行維修; 測試墊尺寸: 可測試最小面積 ...

#57. [心得] 給IC測試工程師的基本入門指南- 精華區Tech_Job

WAT Wafer Acceptance Test，測IC上的testkey，包含自家的layout 最佳化及客戶實驗的function b.CP Circuit Probing ，真正的100%測試，量產的關鍵， ...

#58. WAT工程師(新竹廠)|世界先進積體電路股份有限公司 - yes123 ...

職務類別:測試人員、IC封裝／測試工程師。休假制度:週休二日。 ... 注意：各職缺福利項目可能有所不同，實際職缺福利請依面試時與公司面談結果為準。

#59. 【轉】硬件專業術語 - 开发者知识库

答：WAT(wafer acceptance test), 是在工藝流程結束后對芯片做的電性測量，用來 ... 答：Watch系統提供PIE工程師一個工具, 來針對不同WAT測試項目, ...

#60. 稚欣科技（ZHI HSIN Technologies）

... 台維修或升級，適用於量測DC(IV/CV), RF, OPTO, Solar, 超低溫, 真空等量測項目。主要服務行業有：半導體工業、學術單位、研究機構、DRAM、LCD、LED、封裝測試等。

#61. 使用人工智能和機器學習的半導體見解

Prevents escapes, improves consistency, and decision quality of wafer dispositioning. 數據源： PCM / WAT，Wafersort / Binsort，最終測試. 智能測試. Manufacturing ...

#62. REL 12: 如何測試可靠性？

在確定或向上呈報問題之前，任何程序步驟的結果都用於確定要採取的後續步驟。 執行事件後分析: 審查影響客戶的事件，並識別成因和預防性行動項目。使用此資訊來開發緩解 ...

#63. 成功大學電子學位論文服務

IC產品的發展是從設計、製程、晶圓測試、封裝工程到最後測試等流程。 ... wafer manufacturing processes, WAT (Wafer Acceptance Test), CP (Chip Probing), ...

#64. 食品實驗室-台中FOOD LAB-TAICHUNG - 興達港歐董

測試項目 名稱旁有加者,為本實驗室通過衛生福利部食品藥物管理署認證項目。 7.「微生物」法規標準值作依據 ... COOKED FROZEN DICED WAT EP CHESTNUTS). 8/2006/2070.

#65. (已關閉) WAT工程師_竹科-聯華電子股份有限公司(聯電)職缺

... 誠摯招募(已關閉) WAT工程師_竹科，執行FAB製程監控之測試鍵的佈局設計與電性量測, ... 獎金 :視公司政策發放不同項目獎金(例如:三節節慶獎金2個月、勉勵性之久任 ...

#66. 行政院國家科學委員會專題研究計畫成果報告- 半導體測試載具 ...

(Wafer Acceptance Test；WAT)的參數收集，而研發工程師可藉由WAT電性測試 ... 計畫名稱：半導體測試載具中以粒子族群最佳化法進行製程參數設計之研究. 量化. 成果項目.

#67. [心得] 給IC測試工程師的基本入門指南- 看板Tech_Job

WAT Wafer Acceptance Test，測IC上的testkey，包含自家的layout 最佳化及客戶 ... 及描述測試項目的定義，可能要自己做一些Pattern 前者是按照既定好的方式做setup及 ...

#68. 磁性材料及元件應用技術－磁阻記憶體近期發展與挑戰

點項目。而近幾年隨著研究發展，自旋軌道轉移矩(spin-orbit torque, ... WAT)，如圖10(a)，機台可自動化抓取晶舟內的晶圓作測試，晶圓置放於載台以真空吸附，.

#69. 國立臺灣大學電機資訊學院電機工程學研究所 碩士論文 半導體 ...

應到資料名稱如晶圓允收測試項目(WAT measure item)，而節點類型為具有相同性 ... In semiconductor manufacturing, wafer-acceptance-test (WAT) data is monitored ...

#70. [心得] 給IC測試工程師的基本入門指南- 精華區Tech | 健康跟著走

收集資料不同WAT會有EPI特性的資料，像是beta值或R_on等等，實務上測5點或25點皆有CP則是會有open/short，High/Low Level，以及各種功能性測試資料(IC不同項目不同) ...

#71. [心得] 給IC測試工程師的基本入門指南 - PTT Web

WAT Wafer Acceptance Test，測IC上的testkey，包含自家的layout 最佳化及 ... Automatic test 泛指IC在出廠前會進行很多的AC/DC電性測試項目將它整合 ...

#72. cp測試流程– 半導體測試流程 - Fisherie

CP對整片Wafer的每個Die來測試而FT則對封裝好的Chip來測試。 ... 規格，並對已測試的產品依其電性功能作分類（即分Bin）， 台中，將根據產品不同之測試項目而載入不同 ...

#73. 億開頭的成語有哪些 - Adrnmke

即在中芯國際的所有工廠，實現晶圓接受度測試WAT 及良率水準相同。 品質保證系統為保證高品質的服務， WAT測試方法,ppt, WAT測試方法,ppt,WAT 測量項目以及測試 ...

#74. MOSIA甲醛捕捉劑燃點

WAT IN THE MIND AN AMAL ATATA TORTA. 茂系亞股份有限公司 ... 以下測試之樣品係由供應廠商所提供及確認: 產品敘述: ... 本測試項目委由SGS高雄-化學實驗室所測試。

#75. [心得] 給IC測試工程師的基本入門指南 - PTT 熱門文章Hito

Foundry / Factory 在半導體段，分成3大類，WAT 及CP ，有錢的會多拆一組 ... Automatic test 泛指IC在出廠前會進行很多的AC/DC電性測試項目將它整合 ...

#76. CP/FT最大的差異是在??－第1頁

任何設計都需要經過最後的測試與量測過程來予以驗證，這是確保設計成功的保證與關鍵。然而，新技術的不斷推陳出新也對測試工具帶來了新的挑戰。

#77. 什么是「车规级」，看完这一篇就够了！ | 电子创新元件网

原因很简单，样本数量太少测试的项目并不充分。对于半导体这种大批量制造的元件，通过少量的样本的测试来确定其可靠性，个人认为是非常的不靠谱的， ...

#78. 給IC測試工程師的基本入門指南 - 記者快抄

[心得] 給IC測試工程師的基本入門指南. ... 程式，假設在CP段沒有測試function或是因為設計問題不能在CP上測試的，在WAT或CP段轉設備商或IC設計，a.

#79. 積體電路設計的品質管理實務

晶片設計審查結果; 晶片佈局審查結果; 產品確認測試項目與規範的確定 ... 生產與製程管制作業程序; PCM-WAT 測試項目及規格訂定 ... (b) 製造實務常需包括的項目有.

#80. cp ft 意思

理論上,WAT跟CP的資料很像,IC設計公司通常會要求測試廠提供一些數據(CP ... 认识，在CP测试阶段，尽可能只选择那些对良率影响较大的测试项目，一些测试难度大，成本高 ...

#81. 土壤、噪音、振動監測結果

2、檢測項目有採示“Q”者,係指該檢測項目經環保署許可,並依公告檢測方法分析。 ... 12.1 本報告所列的測試項目及測試方法,經委託及受託單位雙方同意,進行測. 試工作。

#82. 馮宗易- Asia Fusion Technology Ltd Team Lead - LinkedIn

使用Postman進行API 測試後臺功能測試- Back office 測試計畫擬定與測試項目撰寫執行規劃以 ... SW team: WHQL, SIT, WAT, HWQA, Stess, Commodity, Function, FIT

#83. 簽名有效 - 百麒實業

Wat i # *# *# H HT=4122#-656. 6F., NO. 6, LN. 122, SEC. ... 測試需求(Test Requested):. # 3 #KASL E. (102.08.204 ... 測試項目. (Test Items).

#84. 熱點| 半導體材料全球格局- 0x資訊

整個半導體產業鏈主要包括IC 的設計、晶圓製造以及封裝測試等環節，… ... （6）拋光：拋光材料打磨，並再次清洗插入電極等後續處理，進行WAT 測試。

#85. [心得] 給IC測試工程師的基本入門指南| Tech_Job 看板 - My PTT

Foundry / Factory 在半導體段，分成3大類，WAT 及CP ，有錢的會多拆一組 ... Automatic test 泛指IC在出廠前會進行很多的AC/DC電性測試項目將它整合 ...

#86. 關於肉夾饃和良率那點事兒- 半導體行業觀察

關鍵詞：晶圓，良率，Soc芯片，CP測試. ... 晶圓生產出來後，在出晶圓廠之前，要經過一道電性測試，稱為晶圓可接受度測試（WAT）。這個測試是測試在 ...

#87. 資源中心- 文件: IE 版網頁親和力工具列2.0

WAT [alt + 0] 工具列下拉式選單按鈕- WAT 文件 ... 網頁親和力工具協會, 連到WAT-C 網站 ... 可讀性測試, 將目前網頁的網址張貼至Juicy Studio 的線上可讀性測試.

#88. 積體電路設計的品質管理實務主講人：陳世和. - ppt download

符合客戶需要 的確認測試 品質目標 可靠性目標 軟體設計 韌體設計 工程品試作 生產 ... 失效模式與效應分析作業 生產與製程管制作業程序 PCM-WAT 測試項目及規格訂定.

#89. 四端點測量技術- 維基百科，自由的百科全書

四端點測量技術，又稱為四端測試法，開爾文測量法，是一種電子線路中的阻抗測量法，主要用於電阻阻值的精確測量。 目次. 1 一般測量的局限; 2 解決方案 ...

#90. Quality System - 立捷電子股份有限公司

產品質量控制程序 產品質量控制階段項目時機允收標準產出 產品驗證特性量測新產品開發 ... 2 收3 退. WAT report. BGBM. 每批. Thickness. OQC Report. 產品測試.

#91. 食品實驗室-台中FOOD LAB-TAICHUNG - 蜂國蜂蜜莊園

測試 報告僅就委託者之委託事項提供測試結果,不對產品合法性做判斷。 里,不生不分型或非使用, ... 測試項目及LOD整表: ... WAT C H THE GIRL HATE HIXX ...

#92. 第一章四點探針電阻量測

素，第二節則是量測設備與操作簡介，第三節是實驗項目介紹，最後一節則是. 實驗結果與討論要求。 1－1 四點探針量測. 四點探針在半導體電阻率的.

#93. FSI International - 暐凱國際檢驗科技股份有限公司

項目. 甜味劑. 測試項目及方法. 方法. 衛授食字第1061900251號公告-. 食品中甜味劑之檢驗. 方法一醋磺內酯鉀、糖精、甘精及環己基(代)磺醯. 胺酸之檢驗. 測試結果.

#94. 【閒聊】客訴到自己?真的會發生這種事嗎? - 哈啦區

這麼多die，生產出來工廠WAT只會每片點個五點，甚至有些項目每批lot 25片一盒，只挑頭尾片出來檢測，不可能全檢。是晶圓送到後續CP測試廠後，才會有 ...

#95. RBS301-WAT-US Radio Bridge Inc. | 感測器、傳感器| DigiKey

今日訂購，今日出貨。Radio Bridge Inc. 的RBS301-WAT-US – 液體液位感測器LoRaWAN - 輸出-。Digi-Key Electronics 提供數百萬款電子元件的價格及供貨情況。

#96. 半導體測試設備市場現狀：國產化仍不足10%！ - - CodingNote ...

①單晶硅棒經標準製程製作的晶圓，在晶片之間的劃片道上會有預設的測試結構圖，在首層金屬刻蝕完成後，對測試結構圖進行晶圓可靠性參數測試（WAT）來 ...

#97. 探針卡製程

WAT 探針卡閱讀更多江河三緯科技股份有限公司我們整合團隊與實驗室的能力，讓薄膜的製程從想法轉變為可商業化 ... 閱讀更多服務項目半導體製程, 半導體測試, 顯示測試,.