（3）縱深量測（depth profiling）：在分析時會一邊製造出表面的凹陷，探討組成隨 ... 五、次級離子質譜（SIMS，secondary-ion mass spectroscopy） 與質譜離子化方法 ... ... <看更多>

二次離子質譜儀SECONDARY ION MASS SPECTROMETER, (SIMS). 聯絡方式. 設備特性(分析項目). 試片準備方式... 清華大學. 清華大學高能材料館. (舊物理二館)一樓116 室. ... <看更多>

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