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「 #護國神山群的技術堡壘 EP3：半導體製造」
在半導體製造程序中，
#晶圓圖 和 #掃描式電子顯微鏡影像
是不可或缺的元素。
世界第三大、僅次於台積電與三星的
美國晶圓代工大廠格芯 ( GLOBALFOUNDRIES )
建立了一套 #視覺檢測系統 (Visual Inspection) ，
用來檢測晶圓圖與掃描電子顯微鏡圖像的缺陷。
到底『 視覺瑕疵檢測系統 』如何建置？
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萬里編 本月獨家企劃：
『 全球護國神山群的技術堡壘 』
小編選讀案例，了解神山轉型情境！
#護國神山 #數位轉型
#最落地的數位轉型 在 CloudMile
點完❤️右滑第二張敲口愛😛
平常因為工作關係長期戴隱形眼鏡的我，真的很需要讓眼睛好好休息，這次來到「十八街眼鏡」好好的給驗光師檢測一下近視散光的度數，沒想到這邊的設備超齊全，視覺檢測系統 全台只有三百台！跟我以往檢測的都不一樣，驗光師特別細心的跟我講解自己的狀況還用「視網膜鏡 」檢測度數！
看來我以後真的要更加愛惜照顧我美麗的雙眼🥺
檢測完畢後我也順便的挑了一付眼鏡，正是現在最流行的韓式粉框，自己試戴後覺得超美超細緻的，現在我已經迫不及待的想要趕快拿到我美麗的眼鏡了💕💕💕
#十八街眼鏡
#小資女配鏡首選
#VCT視覺檢測系統
#陳詹之老師
#女孩韓式粉框
@ 十八街眼鏡
良率其實很難提升喔，#科科
有時候我們會在半導體相關的新聞裡聽到某某廠商的晶圓良率很好，或是良率不佳要進行提升。
「良率」兩個字聽上去就是越高越好啊，但是......它真能說升就升這麼簡單嗎？
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首先，讓我們聊聊「良率」的定義是什麼。
良率呢，簡單來說就=良品數 / 實際生産數，當然啦，如果良品數越高，能獲得的收益也會較高。
而當良率到達了一定的標準，才能夠穩定量產。
過去在判斷良品數時，曾使用肉眼判斷晶粒表面的缺陷，像是微粒、污染、變色或缺損等等，近年來，則有許多自動檢測系統協助確認品質。
對各大晶圓廠而言，如何同時把晶圓直徑越做越大、元件越做越小，同時還得維持一定的良率，正是它們必須面對的考驗。
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好啦，那讓我們開啟慣老闆模式，再問一次那關鍵的問題：啊是為什麼很難升？
這是因為電晶體實在是太、小、啦！
電晶體是奈米等級的東西，比你我體內的細胞都還要小上許多，更別說晶圓製造還須經過四大製程：薄膜、黃光、蝕刻、擴散。
在製造的過程中，但凡出現任何一絲絲雜質，都會影響產品良率。
這充滿變數的過程，需得過關斬將，拿「蝕刻」的部分來說好了，刻得太淺不行、刻得太深也不行，萬一出現了問題，可能要重新校準機具、調整原料，或是重寫蝕刻程式，實在有太多參數與方向可以進行調整。
總之，良率這項指標，如果可以更高，誰想要它低，但實踐起來可一點兒都不容易啊。
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參考資料：黃., Huang, C., 張., & Chang, Y. Edward (2009). 《針對半導體製程金屬層良率提昇研究》、維基百科《設備效率評價》、電子製造，工作狂人《直通率(First Pass Yield, FPY)是什麼？該如何計算》、張., Chang, Y., 彭., & Perng, D. (2008).《晶粒表面缺陷自動視覺檢測系統之設計與開發》
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延伸閱讀：
突破半導體材料限制新契機？二維材料自發磁異向性的新發現
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積體電路不再漏電的明天？潛力股 MESO 讓電腦手機更小更快！
https://pansci.asia/archives/186154
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