#電路設計 #運算放大器OPA #差模電容CDM #跨阻放大器TIA #量測
【別讓 OPA 輸入電容成為穩定性＆相位餘裕殺手！】
輸入電容可能會成為高阻抗和高頻運算放大器 (OPA) 應用的一個主要規格。值得注意的是，當光電二極體的結電容較小時，運算放大器的輸入電容會成為「雜訊」和「頻寬」問題的主導因素。
運算放大器的輸入電容和回饋電阻在放大器的響應中產生一個極點，進而影響穩定性並增加較高頻率下的雜訊增益。因此，穩定性和相位餘裕可能會降低，輸出雜訊可能會增加。
以往一些CDM (差模電容) 測量技術依據的是高阻抗反相電路、穩定性分析以及雜訊分析，方法非常繁瑣——檢測 CDM 的傳統方法是間接測量，該方法依賴於「相位裕度的降低」，且因並聯使用 CCM– 等其他電容而變得更複雜。
現在，有了新的解決方案。
延伸閱讀：
《一種直接測量運算放大器輸入差分電容的方法》
http://compotechasia.com/a/tech_application/2020/0310/44191.html
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