你是否曾經遇過...
🔎多層結構的待測樣品,透過 SEM 影像卻無法分辨各層材質?
🔎明知 IC 有異常,層層 Delayer,SEM 分析卻什麼異常都找不到?
SEM BSE 技術或許將成為你的救星✨
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scanning electron microscope 在 COMPOTECHAsia電子與電腦 - 陸克文化 Facebook 的最佳貼文
#半導體製程
【千錘百鍊終成器!】
原來,好的半導體元器件要經過這麼多程序的千錘百鍊:3D CAD 設計和模擬、自動化晶片和視覺檢查、貼片組立、自動打線、手工裝配、子系統測試、衝擊和振動子系統測試、模組老化測試、可靠性實驗室延長壽命老化測試、超音波掃描、掃描電子顯微鏡 (Scanning Electron Microscope, SEM)……。
演示視頻:
《ADI:模組設計和生產能力》
http://www.compotechasia.com/a/CTOV/2017/1221/37698.html
#亞德諾ADI
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