【技術推廣】光學量測技術於可撓性基材之高分子溫度量測
陰影疊紋法之原理架構如圖.1、圖.2所示,將參考光柵放至於待測物體上方,當光源透過參考光柵照設置物體表面後,A、C、E三處將會反射光源至CCD相機內,而B、D兩處反射之光源則被光柵之暗處阻擋而無法到達CCD相機內,因此可知,A、C、E三點附近區域為干涉條紋中亮紋部分,B、D兩點附近區域則為干涉條紋中之暗紋部分。
A點與參考光柵之距離N為零,因此將此處之條紋級數(K)設為零級條紋,而下一亮紋之位置於C點,將此處之條紋級數設壹級條紋,E點則為貳級條紋,以此類推。
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