【使用 TestMAX Advisor 提高覆蓋率和減少 Pattern 生成數量】
如何佈署提高品質的測試點,以降低 #測試 成本呢?
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手刀報名 >> https://eetimes.pse.is/3khevy
在電路板上設置 #測試點(test point)是在自然不過的事,目的是為了測試電路板上的零組件有沒有符合規格。想要確保 RTL 或 netlist 與掃描相容,減少測試實作時間和成本、在 RTL 或 netlist 階段儘早診斷 DFT 問題,以提高測試品質或是想要減少每百萬缺陷機會中的不良品數(DPPM),從而降低測試成本,絕不能錯過今天的研討會。😎
在本次 #線上研討會 中,您將學習使用 TestMAX 系列工具,透過自動結合新思科技 synthesis 軟體產品的分析與實作,輕鬆佈署測試點,以一步到位的方式,優化 ATPG 和 logic BIST 结果。
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演講日期:2021年7月28日 (三)
演講時間:10:00 a.m. - 11:30 a.m.
演講嘉賓:
✨新思科技 測試經理 Alex Yu
✨Sanechips DFT經理 李嘉良
✨新思科技 業務開發經理 周姗姗
抽獎好禮:AirPods!
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【如何佈署提高品質的測試點,降低成本?】
製程工程師在檢查電路板會佈署確認電路狀態的 #測試點,究竟要如何以一步到位的方式輕鬆佈署測試點呢?🤔
測試點作為一種可 #測試 性設計技術,能夠提高測試覆蓋率,減少實現故障覆蓋目標所需的 Pattern 數量。在本次線上研討會將簡要介紹如何使用 TestMAX Advisor 分析 RTL 和門級 (gate-level) 設計,以確定插入測試點的最有效位置。此外,Sanechips 將對他們的設計流程展示他們插入測試點的成功案例。透過自動結合新思科技 synthesis 軟體產品的分析與實作,優化 ATPG 和 logic BIST 结果。
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演講日期:2021年7月28日 (三)
演講時間:10:00 a.m. - 11:30 a.m.
演講嘉賓:
✨新思科技 測試經理 Alex Yu
✨Sanechips DFT經理 李嘉良
✨新思科技 業務開發經理 周姗姗
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dft測試 在 COMPOTECHAsia電子與電腦 - 陸克文化 Facebook 的最佳解答
#物聯網IoT #機器視覺 #人工智慧AI #CoaXPress #CXP2.0 #現場可編程邏輯閘陣列FPGA #電子設計自動化EDA #可測試性設計DFT
【眼明手快,機器視覺再進化】
有了好視力 (感測器) 與好腦力 (處理器),如何讓兩者順暢互連也是一門學問,才能做到眼明手快;於是,實體層介面也成了關注焦點。12.5Gbps CoaXPress (CXP) 2.0 介面標準問市,將有助於解決「影像擷取」對機器視覺數據傳輸形成的障礙。
5G 互連性、雲端分析、工廠自動化和智慧家居等技術趨勢正在推動機器學習對於嵌入式視覺的需求;於是,有平行處理能力、可大幅提升資料推理等特定處理工作負載效率的現場可編程邏輯閘陣列 (FPGA),亦成備選方案。
順帶一提,電子設計自動化 (EDA) 對於人工智慧 (AI) 視覺處理器的開發亦功不可沒,可助力完成電腦視覺 SoC 和 PCB 產品的模擬評估,以及達成系統內測試要求。此外,「可測試性設計」(DFT) 是積體電路 (IC) 設計的關鍵要素,對於鎖定安全關鍵型汽車應用的先進 AI 元件來說更是如此。
研調顯示,隨著 AI 產業化的發展,業界對機器視覺的重要性已達成共識,視覺識別 (Visual Identity, VI) 應用尤其最能突顯 AI 為產業升級的價值,佔比 80%。然而,機器視覺仍有幾大待解問題……;回歸基本面,人眼 vs. 機器視覺仍存在哪些差異?如何弭平?線索,都在以下文章連結中哦!
延伸閱讀:
《技術融合推升「機器視覺」應用價值》
http://compotechasia.com/a/feature/2020/0910/45714.html
#微芯科技Microchip #EQCO125X40 #萊迪思Lattice #Nexus #CrossLink-NX #ECP5 #安霸Ambarella #CVflow #CV22FS #CV2FS #益華電腦Cadence #Clarity3D求解器 #Mentor #Tessent #LogicBIST #MemoryBIST #MissionMode
dft測試 在 設計測試檢查(DFT)-【即時DFM 設計】 - YouTube 的推薦與評價
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讓您的產品製造失敗將是一場噩夢,這就是為什麼「 測試 」始終是製造過程的關鍵。無論您是 測試 裸板還是完全組裝的板, 測試 其訊號和組件是至關重要的, ... ... <看更多>
dft測試 在 [問題] DFT Compiler測試涵蓋率的問題- 看板Electronics 的推薦與評價
請問一下板上先進
在使用Synopsys的DFT Compiler時
會有一項是測試涵蓋率(Test Coverage)的資訊
請問所代表的意義為何呢?
測試涵蓋率越高是否代表電路的容錯效果越好?
另外測試涵蓋率與錯誤涵蓋率的差別為何呢?
錯誤涵蓋率是否可由DFT Compiler測得呢?
以上問題盼各位DFT領域的高手回答
感激不盡
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※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Electronics/M.1471759679.A.7FC.html
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