關於 二次離子質譜儀sims ，我們在網路上蒐集到這些相關的討論、資訊與評價

#11. 二次離子質譜儀(SIMS)

二次離子質譜儀 (SIMS). 二次離子質譜儀基於高靈敏度的雜質偵測能力，幾乎對所有元素的偵測極限. 可達百萬分之一原子密度(ppma)，對於部份元素的偵測極限甚至可達十億分 ...

#12. 飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS) PHI nanoTOF

在二次離子質譜儀(SIMS) 領域，飛行時間質譜概念上是最簡單的一種質譜儀，主要用於分離質量。在飛行時間質譜分析中，脈衝二次離子被加速到特定電壓（2至8千電子伏）， ...

#13. 縱橫半導體檢測TOF-SIMS扮演要角- 電子技術設計 - EDN Taiwan

飛行時間式二次離子質譜(Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，TOF-SIMS)是一項極為靈敏的表面分析技術，可以同時獲得空間解析度及縱深 ...

#14. 二次离子质谱（SIMS）技术介绍

当固体样品被几keV能量的一次离子溅射时，从靶发射出来的一部分颗粒被电离。二次离子质谱法是使用质谱仪分析这些二次离子。离子轰击下固体表面的二次离子发射提供了 ...

#15. 二次離子質譜儀系統的研究

In this paper, a home-made secondary ion mass spectroscopy (SIMS) system is described. A concept of the separation of main chamber from preperation chamber was ...

#16. 二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用 - 分析测试百科网

二次离子质谱 （secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的 ...

#17. 二次離子質譜儀_百度百科

二次離子質譜 （ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子, ...

#18. 二次離子質譜儀 - 中文百科全書

二次離子質譜 （ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子, ...

#19. 電線短路熔痕以二次離子質譜儀（SIMS）做表面分析之鑑識方式

電線短路熔痕以二次離子質譜儀（SIMS）做表面分析之鑑識方式. Analysis of Fire Investigation for Short Circuit by Applying Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS).

#20. FA机台原理——二次离子质谱仪 - 知乎专栏

材料分析中，我们会接触到SIMS（Secondary Ion Mass Spectrometry）二次离子质谱仪，今天就跟大家聊聊SIMS的基本原理、优缺点和应用等。

#21. 二次離子質譜：出售SIMS - AntiTeck

然後將這些二次離子提取到質量分析儀中，該分析儀會顯示具有分析表面特徵的質譜圖，並產生靈敏度在ppm 到ppb 範圍內的元素、同位素和分子信息。 該領域最常用的SIMS 儀器有 ...

#22. 飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS） - 科学指南针

科学指南针可为您提供TOF-SIMS服务，TOF-SIMS是通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子 ...

#23. 二次离子质谱仪TOF-SIMS

二次离子质谱仪 揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成，其信息量也远远超过了简单的元素分析，可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛应用于微电子 ...

#24. TOF-SIMS（飛行時間二次離子質譜儀） - 百科知識中文網

TOF-SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）是通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微量的二次離子，根據二次離子因不同的質量而飛行到探測器的時間 ...

#25. 仪器管理 - 中国科学院

序号 仪器名称 仪器型号 预约类型 预约方式 仪器状态 操作 1 横截面离子束抛光仪 693 时间预约 必须预约 可用 预约 2 纳米离子探针 NanoSIMS 50L 项目预约 必须预约 可用 预约 3 电感耦合等离子体质谱仪 NexION 300D ICP‑MS 时间预约 可不预约 可用 预约

#26. 动态二次离子质谱仪（D-SIMS） - 测试狗

动态二次离子质谱仪（D-SIMS） ... 相比TOF-SIMS，D-SIMS有更强的深度分析能力，分析深度能达到5-10um，且剖析过程中可以连续测试元素信息；深度分辨率和检出限比TOF高很多 ...

#27. 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS - WinTech Nano

飞行时间二次离子质谱技术（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品 ...

#28. 二次离子质谱仪SIMS分析技术简介 - 嘉峪检测网

二次离子质谱仪 也称离子探针，是一种使用离子束轰击的方式使样品电离，进而分析样品元素同位素组成和丰度的仪器，是一种高空间分辨率、高精度、高 ...

#29. TOF-SIMS二次离子质谱仪 - 华南检测

飞行时间-二次离子质谱仪(TOF-SIMS）是一种基于质谱的表面分析技术。高能一次离子束（如Ga+，Bi3+， Arn+，Cs+等）轰击样品表面，在轰击区域产生包含样品表面成分信息 ...

#30. Ar+共濺射與動態二次離子質譜術 - 國立臺灣大學

以簇離子(cluster ions)作為濺射離子源的時間飛行二次離子質譜儀. （TOF-SIMS)已 ... secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) has been shown to be a promising.

#31. 飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）介绍 - 搜狐

二次离子质谱仪 （SIMS）简介：. 二次离子质谱仪（secondary ion mass spectroscopy，简称SIMS），是利用质谱法分析初级离子入射靶面后，溅射产生的二 ...

#32. 北醫大設置3千多萬「飛行式二次離子質譜儀」（TOF-SIMS）

而北醫大之生醫質譜影像中心推廣具有高感度、便捷、快速又標準化的質譜影像分析技術，將以TOF-SIMS為核心技術，成為亞洲第一的質譜影像研究中心。 □亞洲 ...

#33. 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS - 铄思百检测

二次离子质谱 （Secondary ion mass spectroscopy，简称SIMS）是一种表面分析技术，是基于一次离子与样品表面的相互作用。SIMS工作原理是指带有几千 ...

#34. 用于使用二次离子质谱的半导体计量和表面分析的系统和方法

配置提取透镜为从样品台上的样品发射的二次离子提供低提取场。磁扇区光谱仪沿着SIMS系统的光学路径耦合到提取透镜。磁扇区光谱仪包括耦合到磁扇区分析仪(MSA) ...

#35. 二次离子质谱仪（SIMS）分析方法介绍-美信检测

简介二次离子质谱仪（secondary ion mass spectroscopy，简称SIMS），是利用质谱法分析初级离子入射靶面后，溅射产生的二次离子而获取材料表面信息的一种方法。

#36. 飞行时间二次离子质谱仪

TOF-SIMS测试的大部分样品为绝缘样品，而绝缘样品表面通常. 有荷电效应。PHI nanoTOF3 采用自动荷电双束中和技术，通. 过同时发射低能量电子束和低能量氩离子束，可 ...

#37. 固體材料表面分析：二次離子質譜對生物樣品微區成像技術分享

TOF-SIMS的原理及特點飛行時間-二次離子質譜儀（TOF-SIMS），是一種非常靈敏的表面分析技術。它利用一次離子激發樣品表面微量的二次離子，根據二次離子 ...

#38. 網路上關於二次離子質譜儀-在PTT/MOBILE01/Dcard上的升學 ...

二次離子質譜 （英語：Secondary Ion Mass Spectroscopy, SIMS）是用來分析固體表面或者是薄膜的化學成分的技術，其用一束聚焦的離子束濺射待測品表面，並通過檢測轟擊 ...

#39. 二次離子質譜儀(SIMS) :: 博碩士論文下載網

SIMS ，適用分析深度>1um，可以得到元素與同位素資料；飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）...閎康添購的M6plus為ION-TOF最高階機型，具有<50nmHighlateral .

#40. 飞行时间——二次离子质谱仪 - 中国科学院上海应用物理研究所

飞行时间——二次离子质谱仪（TOF-SIMS）采用质谱技术分析材料表面原子层以确定表面元素组成和分子结构。其工作原理是样品表面被高能聚焦的一次离子轰击时，一次离子注入 ...

#41. SIMS Workstation 二次离子质谱仪-仪器网-手机站

二次离子质谱仪 适合做多层薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式扫描，自动测量正...,如有意向请联系北京英格海德分析技术有限公司.

#42. 二次离子质谱技术及对材料深度的分析检测应用 - 网易

通过SIMS技术可以完成二次离子质谱图、深度分析曲线图、表面化学成像等。 ... 在SIMS发展的历史中，用于检测二次离子的质荷比的检测器有磁质谱仪、四 ...

#43. 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS

Hiden TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用，包括聚合物，药物，超导体，半导体，合金，光学和功能涂层以及电介质，检测限低于 ...

#44. 二次离子质谱仪（SIMS）分析技术及其在半导体产业中的应用

昌鹏摘 要：二次离子质谱仪（SIMS）是一种成熟的应用广泛的表面分析技术，具有高灵敏度（ppm-ppb）和高分辨率。本文介绍了SIMS基.

#45. 二次离子质谱（SIMS）的介绍- 产品讯息- 资讯 - 中实仪信网

离子 探针分析仪，即离子探针（Ion Probe Analyzer，IPA），又称二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用电子光学方法把惰性气体等 ...

#46. 奈米級二次離子質譜儀計畫( NanoSIMS ) - ASIAA - 中央研究院

奈米級二次離子質譜儀實驗室由中研院天文及天文物理研究所與地球科學研究所共同創立。主要研究重心為早期太陽系，使用CAMECA公司的NanoSIMS 50L儀器 ...

#47. PHI NanoTOFII TOF-SIMS 飞行时间二次离子质谱仪 - 仪器网

提供PHI NanoTOFII TOF-SIMS 飞行时间二次离子质谱仪的详细技术参数,资料和实时价格,厂家有专业的日本Ulvac-PhiPHI nanoTOF II销售和售后服务技术团队 ...

#48. 飞行时间二次离子质谱仪 - 清华大学分析中心

设备名称：飞行时间二次离子质谱仪Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS 设备编号：13027664 型号：TOF.SIMS 5 厂家：ION-TOF GmbH（德国）

#49. 飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）的优点

飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）在应用中可解决的问题：（1）当产品表面存在微小的异物，而常规的成分测试方法无法准确对异物进行定性定量分析， ...

#50. 二次離子質譜 - Wikiwand

二次離子 質譜（英語：Secondary Ion Mass Spectroscopy, SIMS）是用來分析固體表面或者是薄膜的化學成分 ... 它的原理除了採用離子槍轟擊激發以外，其餘與質譜儀完全相同。

#51. 二次离子质谱仪_搜狗百科

二次离子质谱 （ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子, ...

#52. 二次离子质谱仪（SIMS）-测试100仪器共享平台

IMS 1280型二次离子质谱仪具有高精度、高灵敏度、高分辨率和高效率的微区微量分析能力，能够针对天然矿物、固体材料或生物组织的微区或微小颗粒，进行原位的同位素和 ...

#53. TOF-SIMS 飞行时间二次离子质谱-化工仪器网-手机站

先进的动态TOF-SIMS系统，它使用直流主束的飞行时间分析仪，创建了成像质谱的新范式。...,如有意向请联系科睿设备有限公司.

#54. 【原创】飞行时间-二次离子质谱仪（TOF-SIMS） - 仪器社区

tof-sims (time-of-flight Secondary ion mass spectrometer)是飞行时间-二次离子质谱仪，它可以进行全元素分析，包括H，同时还可以分析元素的全部同位素。

#55. 二次離子質譜儀原理與生醫應用研討會 - TMU

本校於2012年4月已於教學研究大樓地下一樓建置完成「飛行式二次離子質譜儀」(Time of. Flight-Secondary Ion Mass Spectrometer, TOF-SIMS), ...

#56. 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS) - 康派斯

结合飞行时间质谱仪，该技术可提供出色的测量能力，灵敏度在百万分之一（ppm）范围内。TOF-SIMS仪器中使用的初级离子束（通常69加或197Au）可以聚焦到亚微米尺寸，这意味着 ...

#57. 二次离子质谱仪SIMS Workstation(A5-115)-深圳大学测试中心

固定资产编号：: 17007188; 中文名称：: 二次离子质谱仪SIMS Workstation(A5-115); 英文名称：: secondary icon mass spectrometer; 型号规格：: SIMS Workstation ...

#58. SIMS(secondary ion mass spectroscopy)二次离子质谱转载

1.仪器介绍二次离子质谱（SIMS）是一种用于通过用聚焦的一次离子束溅射样品表面并收集和分析喷射的二次离子来分析固体表面和薄膜的组成的技术。

#59. 二次離子質譜的原理組成和結構 - 人人焦點

二次離子質譜. Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS). 1 引言: 離子探針分析儀，即離子探針（Ion Probe Analyzer，IPA），又稱二次離子 ...

#60. 二次离子质谱- 维基百科，自由的百科全书 - norwavg.net

它的原理除了采用离子枪轰击激发以外，其余与质谱仪完全相同。SIMS一般采用四极质谱计，因为它结构简单，而且体积较小。但是它检测的相对分子质量范围仅 ...

#61. 二次离子质谱（SIMS）技术揭示地球演化的秘密" - 李中平的博文

二次离子质谱 （Secondary-ion Mass Spectrometry，简称SIMS）是一项先进的科学技术，它在材料分析领域发挥着重要作用。通过使用SIMS技术， ...

#62. TOF-SIMS | 概念理论| 技术资料

二次离子质谱仪 理论. 简介 二次离子质谱（SIMS）的概念非常简单，一批拥有相同动能的离子按质量对电荷比的顺序飞行经过一条无电磁场的真空管到达离子检测器。

#63. 二次离子质谱仪（SIMS）分析方法介绍

简介. 二次离子质谱仪（secondary ion mass spectroscopy，简称SIMS），是利用质谱法分析初级离子入射靶面后，溅射产生的二次离子而获取材料表面信息 ...

#64. Implant SIMS笔记(离子注入机二次离子质谱笔记) - 智于博客

二次离子 强度经过转换可得到元素的浓度，而离子轰击时间，可转换成杂质分布深度。二次离子质谱仪具有优异的侦测极限，可量测出固体材料中元素含量至百万分 ...

#65. 藉由二次離子質譜儀

圖二：由Evans. Analytical Group. 發展的PCOR-. SIMS可準確量. 測矽濃度，在 n-DBR層中可單. 獨量測出鋁的濃. 度比例。 Page 24. 22 COMPOUND SEMICONDUCTOR TAIWAN 2014 ...

#66. TOF SIMS - 二次离子质谱 - 赛默飞

二次离子质谱仪 （SIMS）可加装在双束电镜（FIB-SEM）上，因为FIB切割过程中会产生离子化的粒子；与此同时，由于这些粒子来自非常浅的深度，所以这被认为是一种表面分析 ...

#67. 飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）在深度剖析上的技术应用

二次离子质谱SIMS 的基本原理是基于带有几千电子伏特能量的一次离子束轰击固体样品表面，经过物理相互作用而使样品表面产生二次离子的一种现象， ...

#68. 二次離子質譜大科普！TOF-SIMS及D-SIMS例項分析 - 古詩詞庫

二次離子質譜 （ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發生濺射 ...

#69. 飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）

飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）. 测试内容：TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三维样品的元素、分子等结构信息，其特点在二次离子来自表面1nm以内的原子层 ...

#70. 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS - 广州华晰检测技术中心

分析原理：飞行时间-二次离子质谱仪（TOF-SIMS），是一种非常灵敏的表面分析技术。它利用一次离子激发样品表面微量的二次离子，根据二次离子飞行到探测器的时间不同来 ...

#71. ADEPT 1010 动态二次离子质谱仪 - 上海德竹芯源科技有限公司

简述：动态二次离子质谱仪（D-SIMS）是使用一次离子束（通常是Cs源）轰击样品表面，而产生二次离子，然后用质谱分析仪分析二次离子的质荷比（m/q），从而得知元素在样品中 ...

#72. 二次离子质谱 - 抖音

2022-10-12 00:10:31 二次离子质谱推荐内容: 飞行时间二次离子质谱仪(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry ，简称TOF-SIMS)是通过用一次离子激发样品 ...

#73. 产品-飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS) 德国IONTOF

作为德国IONTOF在中国的唯一总代理，我司共销售三种高端表面分析仪器：. 主要销售飞行时间二次离子质谱仪（简称TOF-SIMS，新一代型号为M6，上一代高性能TOF.

#74. 二次離子質譜分析儀SIMS iST宜特- 歐傑電子 - R09Ls

歐傑電子能譜儀Auger,AES 是種利用電子束作為激發源的高靈敏度表面分析surface analysis 技術，樣品偵測深度小於10nm。AES具有奈米級單點分析以及極表面＜10nm 的分析 ...

#75. 关于举办“飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）

飞行时间二次离子质谱（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS）是一种非常灵敏的材料表面分析表征技术。

#76. 飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS） - 纳米真空互联实验站

飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）. 仪器介绍 · 业务信息 · 预约权限 · 预约日历. 仪器分类 测试分析平台; 仪器状态 启用; 所属单位 所内> 纳米真空互联实验站 ...

#77. 二次离子质谱仪 - 仪器

二次离子质谱仪. 仪器资源. 示例. 二次离子质谱仪. 价格：750万元. 仪器类别：分析仪器. 型号规格：ION TOF-SIMS 5. 设备编号：. 生产厂商：Ion-Tof GmbH. 供货商：.

#78. 飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS） - 研鹿检测

飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）. 型号：TOF-SIMS 5 iontof ，PHI NanoTOFII. 测试项目：. 质谱、面扫、深度剖析。 sims的数据的纵坐标是计数，是强度，不同离子的 ...

#79. 硅单晶中氮含量的测定二次离子质谱法

扇形磁场二次离子质谱仪（SIMS），应配备有铯一次离子源、能检测负二次离子的电子倍增器、法拉第杯检测器和样品架。仪器分析室的真空度优于5×10 -7 Pa， ...

#80. 二次离子质谱仪(SIMS)管 - 欧宝体育app下载安装苹果

SIMS 技术用于分析固体表面和薄膜的成分。聚焦束熄火样品释放表面粒子;弹出二次离子进行收集和分析。质量/电荷比率的二次离子质谱仪测量来确定 ...

#81. 二次离子质谱仪（SIMS）（IMS 1280）

仪器名称, 二次离子质谱仪（SIMS）, 仪器型号, IMS 1280. 所属单位, 地质与地球物理研究所, 所属区域中心, 北京地球系统与环境科学大型仪器区域中心.

#82. TOF-SIMS - 纳米真空互联实验站

将二次离子导入飞行时间（TOF型）质谱仪，检测保留了表面成分化学结构的分子离子和部分碎片离子，就可以获取有关表面的元素构成和化学结构的信息。TOF-SIMS是一种调查技术 ...

#83. 二次离子质谱(SIMS) - 有色金属在线

二次离子质谱 (SIMS). 图书来源：材料及其制品表面加工新技术. 作者：李国英. 出版时间：2002-02 定价：45元. 图书ISBN：7-81061-526-2/TB.015.

#84. 二次离子质谱仪SIMS - 上海科技创新券

二次离子质谱仪SIMS. 价格面议. 累计交易量： 0. 累计评价： 0. 未收藏. 服务类别. D.检验检测服务. 服务范围. D2.新一代信息技术检测服务. 服务内容.

#85. 台灣佳鎂佳發表主力SIMS機種- 專4 台灣國際太陽光電論壇暨 ...

國際半導體設備大廠－CAMECA（台灣分公司為台灣佳鎂佳公司），發表主力SIMS（二次離子質譜儀secondary ion mass spectroscopy）機種，包括廣為半導體 ...

#86. 當年度經費： 665 千元 - 政府研究資訊系統GRB

關鍵字：奈米塑膠微粒；海鮮；飛行時間二次離子質譜儀；人類腸上皮細胞模式；苯並[a] ... 飛行式二次離子質譜儀(TOF-SIMS)在人體肝細胞中重金屬中毒的離子影像分析研究.

#87. 必富未上市財經網‧未上市股票股價‧未上市行情>> 專題

繼用於最先進製程的極紫外光光阻（EUV PR）及超低介電材料（low-k）材料分析技術後，汎銓第三季設備陣容再升級，新增二次離子質譜儀（SIMS），為SA表面分析的利器，偵 ...

#88. SIMS在矽半導體材料上之應用研究__國立清華大學博碩士論文 ...

二次離子質譜 術(SIMS)已被廣泛應用於矽半導體材料的分析，主要原因為SIMS具有相當高的偵測靈敏度。然而，定量一直是SIMS分析的一大困擾。目前定量的方式主要為利用已知 ...

#89. IMP-EPD | 恩詠ENYONGTEC

IMP-EPD是一個差分泵，堅固耐用的二次離子質譜儀，用於分析離子束蝕刻過程中的 ... IMP EPD - 端點檢測器，用於離子束蝕刻的Hiden Analytical SIMS端點檢測器系統概述 ...

#90. 二次離子質譜分析儀SIMS iST宜特- 歐傑電子

1. XPS表面成份定性及定量分析. 2. XPS化學位移chemical shift 分析1 XRD最小光點分析力： 0.3mm 2 高功率，高強度X光源： 6kW 3 定點 ...

#91. 行政院原子能委員會委託研究計畫研究報告

【肝細胞二次離子質譜法與共焦點顯微分析法之建立及應用】. 【Analysis Methodology and Application of ... 飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS)離子影像與共軛聚焦顯.

#92. 二次離子質譜（SIMS）如何在檢測實驗室中進行有機結構分析

二次離子質譜 （Secondary Ion Mass Spectroscopy，SIMS）是一種重要的材料成分分析方法。SIMS技術的原理是以一定能量（通常為幾百至幾萬eV）的初級離子束入射到材料 ...

#93. 半導體產業的醫生台灣材料分析龍頭20201219【台灣向錢衝 ...

... 像是一台要價新台幣一億元的 二次離子質譜儀 ，他們就有超過十台，而她自己更是全台第一位材料學女博士。 「年代電視」是完全數位化的電視新聞台， ...

#94. 材料破損分析 - 第 52 頁 - Google 圖書結果

子層厚度,分析後會在材料表面留下大約 0.1mm 直徑的凹痕,另一種模式(mode)是所謂的靜態二次離子質譜儀,此種二次離子質譜儀的入射離子是不加以聚焦的,入射點大約 3mm ...

#95. 儀器分析原理與應用 - 第 264 頁 - Google 圖書結果

11-2-7 離子源(Ion source)及二次離子質譜儀(SIMS)離子源質譜儀即為常稱的「二次離子質譜儀(secondary ion MS, SIMS)」。這由離子(如Ar+)撞擊樣品(M)產生離子(如M+)的 ...

#96. 奈米粉體的分散及表面改性 - 第 132 頁 - Google 圖書結果

4.1.3 二次離子質譜儀( 15 ~ 171 二次離子質譜儀( Secondary Ion Mass Spectrometry , SIMS )是一種透過分析離子束轟擊樣品表面時濺射出來的二次離子質譜, ...