二次離子質譜 （英語：Secondary Ion Mass Spectroscopy, SIMS）是用來分析固體表面或者是薄膜的化學成分的技術，其用一束聚焦的離子束濺射待測品表面，並通過檢測轟擊 ... ... <看更多>

二次離子質譜 （英語：Secondary Ion Mass Spectroscopy, SIMS）是用來分析固體表面或者是薄膜的化學成分的技術，其用一束聚焦的離子束濺射待測品表面，並通過檢測轟擊 ... ... <看更多>

二次離子質譜 （英語：Secondary Ion Mass Spectroscopy, SIMS）是用來分析固體表面或者是薄膜的化學成分的技術，其用一束聚焦的離子束濺射待測品表面，並通過檢測轟擊 ... ... <看更多>

SIMS ，適用分析深度>1um，可以得到元素與同位素資料；飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）...閎康添購的M6plus為ION-TOF最高階機型，具有<50nmHighlateral . ... <看更多>

... 像是一台要價新台幣一億元的 二次離子質譜儀 ，他們就有超過十台，而她自己更是全台第一位材料學女博士。 「年代電視」是完全數位化的電視新聞台， ... ... <看更多>